易于使用的 EM-IR 流程,支持全芯片验证

Cadence Voltus-XFi 定制电源完整性解决方案是一款晶体管级电迁移和电压降 (EM-IR) 工具,可在电源完整性签核方面提供晶圆代工厂认可的 SPICE 级精度。

EM-IR 分析在晶体管级别带来了独特的挑战,例如,EM 规则非常复杂,大型 RC 网络的布线后电流仿真成本高昂。Voltus-XFi 解决方案与 Cadence Spectre X SPICE Simulator 以及 Virtuoso Design Platform 集成,可加速电源签核分析和收敛。

立方体图片

提高生产力,满足紧张的上市时间要求

准确全面的分析

FinFET 和 FD-SOI 节点的EM规则和IR精度的代工厂支持

提高生产力

集成的 EM-IR 流程,有助于轻松快速地完成分析和调试

优化性能

我们获得专利的基于电压的方法,可减少内存空间占用,且运行速度比直接方法更快

集成 Cadence 生态系统

与 Cadence Voltus IC 电源完整性解决方案集成,提供全芯片支持

  • EM-IR 流程集中管理面板:
    基于提取、仿真、分析和调试的一站式工作流程
  • 简单易用的使用模式,无需复杂调整:
    通过简单选项在准确性和性能之间取得平衡
  • 全面的调试选项:
    EM-IR Results Browser 可汇总 EM-IR 信息,突出显示违例行为,有助于轻松修复错误
  • 全芯片支持:
    为分析的晶体管模块/IP 创建电网视图 (PGV) 宏模型,并将模型传递给 Voltus IC电源完整性解决方案 ,进行全芯片签核

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