本文将讨论如何优化并利用矩信息,以提高先进制程偏差中标准单元库的时序信息的准确性、有效性和可行性。此外,本文还会深入探讨在LVF中引入更高阶矩的可能性,提高OCV信息产出的效率和价值,故而提高STA结果的可靠性,保证芯片产出高良率。
本文分为五大内容,首先描述矩在数学和统计学中的概念,而后讨论标准单元库工艺偏差的表征,及先进工艺的表征标准;在第四部分,通过使用Cadence Spectre和Liberate进行先进工艺标准单元库Liberty文件的矩信息萃取,通过实例数据和图表具体剖析如何优化和利用LVF中的矩信息;最后,我们将探讨引入更高阶矩的可能性。